Ucebnice.cz Ostatní kategorieDalší knihy
Termín obdržení zásilky
Česká pošta Úterý 11.03
PPL Úterý 11.03
Osobní odběr Středa 12.03
Termíny jsou pouze orientační a mohou se lišit podle zvoleného typu platby. O Průběhu zásilky Vás budeme informovat e-mailem.
Při nákupu většího množství produktů negarantujeme dodání do zobrazeného data

Metrologie

Metrologie
9 %

289  Kč 318 Kč

Expedice za 2 až 3 dny

Sleva až 70% u třetiny knih
Skripta jsou především určena studentům předmětů A0M38MET a XP38MPM, které jsou zajišťovány katedrou měření na FEL ČVUT v Praze. Jejich první část je věnována fundamentální metrologii, pojednává o měřicích škálách, soustavě měřicích jednotek SI, etalonech elektrických veličin, metodách používaných při navazování etalonů, chybách měření a nejistotách měření. Druhá část je zaměřena na problematiku přesných měření stejnosměrných a nízkofrekvenčních elektrických veličin a seznamuje studenty jednak se speciálními prostředky a zařízeními, jejichž používání umožňuje dosahovat vysoké přesnosti měření, jednak s vlastními metodami přesného měření aktivních i pasivních elektrických veličin.
Autor:
Nakladatel: CVUT Praha
ISBN: 978-80-01-06612-6
Rok vydání: 2019
Jazyk : Čeština
Vazba: brožovaná/paperback
Počet stran: 134
Mohlo by se vám také líbit..