Semiconductor Interfaces: Formation and Properties
86
%
494 Kč 3 463 Kč
Odesíláme do 1 až 2 týdnů
Sleva až 70% u třetiny knih
(ii) Fine characterization down to the atomic scale using recently devel- oped, powerful techniques such as scanning tunneling microscopy, high reso- lution transmission electron microscopy, glancing incidence x-ray diffraction, x-ray standing waves, surface extended x-ray absorption fine structure and surface extended energy-loss fine structure.
Nakladatel: | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG |
ISBN: | 9783642729690 |
Rok vydání: | 2011 |
Jazyk : | Angličtina |
Vazba: | Paperback |
Počet stran: | 389 |
Mohlo by se vám také líbit..
-
AllatRa
S.T. Joshi
-
Matematika pro gymnázia Rovnice a ner...
Jura Charvát
-
Matematika pro gymnázia Planimetrie
Eva Pomykalová
-
Hyde Park Civilizace
Stach Daniel, Cihlářová Gabriela,
-
Matematika pro gymnázia Kombinatorika...
Emil Calda; Václav Dupač
-
Matematika pro gymnázia Základní pozn...
Bušek Ivan
-
Matematika pro gymnázia Funkce + CD
Oldřich Odvárko
-
Strojnické tabulky 1
Jaroslav Řasa
-
Podívej se do vesmíru
S.T. Joshi
-
Matrix Božský zdroj
Gregg Braden
-
Matematika pro gymnázia Analytická ge...
Milan Kočandrle
-
Matematika pro gymnázia Stereometrie
Pomykalová Eva
-
Solid Base Catalysis
Ono, Yoshio; Hattori, Hideshi
-
Astronomie Mit Dem Personal Computer
Montenbruck, Oliver
-
Fluid Mechanics
Durst, Franz
-
Condensed Matter Physics
Strobl, Gert R.