Ucebnice.cz Odborná • naučnáTechnické vědyPrůmysl
Termín obdržení zásilky
Dodací doba je ovlivněna statním svátkem ( 25.12, 26.12, 01.01 )
Česká pošta Úterý 31.12
PPL Úterý 31.12
Osobní odběr Čtvrtek 02.01
Termíny jsou pouze orientační a mohou se lišit podle zvoleného typu platby. O Průběhu zásilky Vás budeme informovat e-mailem.
Při nákupu většího množství produktů negarantujeme dodání do zobrazeného data

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
9 %

1887  Kč 2 076 Kč

Sleva až 70% u třetiny knih
An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described.
Autor:
Nakladatel: Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9781461349693
Rok vydání: 2013
Jazyk : Angličtina
Vazba: Paperback / softback
Počet stran: 689
Mohlo by se vám také líbit..