Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
7
%
2918 Kč 3 139 Kč
Sleva až 70% u třetiny knih
| Autor: | Franco, Jacopo |
| Nakladatel: | Springer Netherlands |
| ISBN: | 9400776624 |
| Rok vydání: | 2013 |
| Jazyk : | Angličtina |
| Vazba: | pevná |
| Počet stran: | 208 |
Mohlo by se vám také líbit..
